Тестер, принципиальная схема которого приведена на рисунке, предназначен для проверки состояния ячеек памяти репрограммируемых ПЗУ ИМС К573РФ2 и К573РФ6 после стирания информации УФ-облучением. Простейшая схема содержит генератор импульсов частотой 15 кГц на DD1 и двоичный счетчик-делитель на ИМС DD2. Счетчик обеспечивает непрерывный опрос состояний ячеек памяти ПЗУ с периодом около 1с. Если в микросхеме ПЗУ хотя бы в одной ячейке памяти после стирания сохранилось состояние лог. 0, то в момент ее опроса будет светиться светодиод того разряда байта, в котором она находится.
Рис.1 Принципиальная схема
Тестер можно подключать к любому источнику питания со стабилизированным выходным напряжением 5 В и допустимым током нагрузки не менее 0,1 А. Перед включением тестера необходимо установить проверяемую ИМС в панельку XS1. В генераторе импульсов можно использовать и другие инверторы с любым количеством входов логики И-НЕ и ИЛИ-НЕ. Неиспользуемые входы следует соединять с общим проводом для логики ИЛИ-НЕ и с шиной питания для логики И-НЕ. При желании в тестер можно ввести режим фиксации дефектной ячейки остановкой генератора при перепаде напряжения на резисторах R2, R3 с помощью, неиспользуемых инверторов DD1.
Источник: Радио №11, 1994 г., стр.23
Автор: С. Дмитриев
Тестер для контроля РПЗУ
Просмотров сегодня: 5415, всего: 5415